半导体制冷低温差示扫描量热仪

半导体制冷低温差示扫描量热仪  
差示扫描量热仪为触摸屏式，可进行玻璃化转变温度测试、相转变测试、熔融和热焓值测试、产品稳定性、氧化诱导温度、氧化诱导期测试、固化度等测试。

技术特点

 1、工业级别的7寸触摸屏，显示信息丰富。

2、全新金属炉体结构，基线更好，精度更高。

3、USB通讯接口，通用性强，通信可靠不中断，支持自恢复连接功能。

4、自动切换两路气氛流量，切换速度快，稳定时间短。同时增加一路保护气体输入。

5、采用***芯片，稳定性高 

半导体制冷低温差示扫描量热仪  

技术参数：

1.温度范围: -40~600℃     

2.温度分辨率: 0.01℃

3.温度波动: ±0.01℃

4.升温速率: 0.1～100℃/min

5.降温速率：0.1~40℃/min

6.恒温时间：可自行设置

7.控温方式：升温，恒温，降温（全自动程序控制）

8.扫描方式：升温扫描、降温扫描

9.DSC量程: 0～±600mW

10.DSC解析度: 0.01uW

11.DSC度: 0.001mW

12.工作电源: AC220V/50Hz或定制

13. 气氛控制气体：两路自动切换（仪器自动切换）

14.程序控制：可实现六段升温恒温控制，特殊参数可定制

15.气体流量：0-300mL/min  

16.气体压力：≤5MPa

17.显示方式: 24bit色，7寸 LCD触摸屏显示

18.数据接口：标准USB接口

19.参数标准:  配有标准物质（铟，锡，铅），用户可自行校正温度