熔点差热分析仪

熔点差热分析仪用途：
      主要测量与热量有关的物理、化学变化，如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性（氧化诱导期）、玻璃化转变温度、氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

熔点差热分析仪技术参数: 
1. 温度范围: 室温~1250℃   
2.  量程范围: 0～±2000μV      
3. 升温速率: 0.1~80℃/min
4. 温度分辨率: 0.01℃
5.  温度重复性: ±0.1℃
6.  DTA精度: 0.01μV 
7. 控温方式: 升温：程序控制  可根据需要进行参数的调整
                    恒温：程序控制  恒温时间任意设定
8.  曲线扫描: 升温扫描
9. 气氛控制: 仪器自动切换
10.  气体流量：0-200mL/min  
11.  气体压力：0.2MPa
12. 显示方式：24bit色 7寸LCD触摸屏显示
13. 数据接口: 标准USB接口
14. 参数标准: 配有标准物质，带有一键校准功能，用户可自行校正温度和热焓
15. 工作电源: AC 220V  50Hz或定制
16.  功率：600W

主要特点：
1.  全新全封闭式高级陶瓷炉体设计结构，大大提升灵敏度和分辨率以及更好的基线稳定性。 
2.  采用进口合金传感器，更抗腐蚀，抗氧化，传感器灵敏度高。
3.   采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更精que。
4.  采用USB双向通讯，*实现智能化操作。
5.  采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，实时显示仪器的状态和数据。
6.  智能化软件设计，仪器全程自动绘图，软件可实现各种数据处理，如热焓的计算、玻璃化转变温度、氧化诱导期、物质的熔点及结晶等等。

参考标准：
GB/T 19466.2 – 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分：玻璃化转变温度的测定；
GB/T 19466.3 – 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分：熔融和结晶温度及热焓的测定；
GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化诱导期 氧化诱导时间（等温OIT)和氧化诱导温度（动要态OIT)的测定。